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測量鋰離子電池隔膜膜厚測厚儀
  • 測量鋰離子電池隔膜膜厚測厚儀
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 日本

更新時間：2024-11-02 16:50:44

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測量鋰離子電池隔膜膜厚測厚儀，它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學系統，可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀，準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數

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    • 1

    • 測量半透明片材、
      低反射膜、硅等的厚度，這在光學干涉測量法中是困難的


    • 2

    • 微型光纖探頭

      由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
      它可以安裝在設備或生產線的狹小空間內。
      此外，由于探頭僅通過
      光纖連接到主機，因此具有出色的耐環境性。


    • 3

    • 高速測量：
      在
      100 個點或更高處同時采樣 950~1650 nm 的近紅外波長

      可實現短至 1 毫秒的高速采樣。
      可以在生產線上進行實時檢測和測量。
      由于干涉濾光片不旋轉，因此具有出色的耐用性和可靠性。


    • 4

    • 厚度測量重復性：0.1% 或更低 （3σ）


    • 5

    • 兩種可選的測量算法

      測量算法校準樣品測量目標
      Beer-Lambert 法1 種僅厚度
      最小二乘回歸2 種或更多類型倍數（厚度、密度、特定成分的混合量等）


測量示例（鋰離子電池隔膜）

可以同時測量厚度和涂層重量。

測量示例（硅襯底上黑色光刻膠的膜厚）

可以測量硅襯底上黑色光刻膠的薄膜厚度，而使用反射光譜法使用光學干涉涂層測厚儀很難做到這一點
。

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