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Otsuka大塚分光干涉式晶圓膜厚儀即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破壞性光學...

日本SSD西西蒂離子風扇離子發(fā)生器BF-X4ME輕薄型風扇型。型是一款空氣電離器,

日本SSD西西蒂空氣電離器離子風扇SSD西西蒂BF-X2MC 型吹氣式除靜電器是 BF-2ZC 的后繼產品，具有電極維護的自動和手動切換功能，并使用內置刷子進行...

Otsuka大塚 分光干涉式晶圓膜厚儀省空間即時檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產品特色 非接觸式、非破...

日本SSD西西蒂緊湊型空氣離子發(fā)生器SSD西西蒂離子風扇BF-X2DD-V2 緊湊型負離子空氣器是一款緊湊、輕便的直流負離子空氣器。

日本SSD西西蒂離子風扇自1938年公司成立以來，日本SSD西西蒂便已開始開發(fā)除靜電設備，是日本最先開始設計并生產除靜電設備的專業(yè)制造商。

自1938年公司成立以來，日本SSD西西蒂便已開始開發(fā)除靜電設備，是日本最先開始設計并生產除靜電設備的專業(yè)制造商。美薩科技也秉承日本SSD提供真正解決ESD解決...

HITACHI日立紫外分光光度計易操作UH5200不僅配有高分辨率彩色LCD大屏和便捷小鍵盤，還可以通過USB接口輕松連接外部設備（讀卡器、鍵盤），實現(xiàn)樣品信息...

HITACHI日立分光光度計易操作U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色散功能，光...

HITACHI日立紫外分光光度計易使用UH5700采用連續(xù)可變狹縫，在近紅外波長區(qū)測定低光量時，自動加寬狹縫；測定高光量時，自動減小狹縫寬度。支持低噪音測定超大...

HITACHI日立雙光束穩(wěn)定光學光度計易使用U-3900/3900H分光光度計采用Seya-Namioka單色儀，安裝了像差校正凹面光柵。同時擁有光束的聚焦和色...

HITACHI日立熒光分光光度計易維護F-2700熒光分光光度計在設計上充分考慮了用戶的操作體驗。操作鍵盤設計簡潔直觀，類似于手機按鍵，用戶無需專業(yè)培訓即可快速...

HITACHI日立熒光分光光度計靈敏度高F-7100是在前代機型F-7000的基礎上更新升級，基本性能得到了進一步提升。靈敏度（S/N）是選擇熒光分光光度計的重...

HITACHI日立分光光度計易操作采用優(yōu)良的技術和優(yōu)質的材料制造而成，F(xiàn)-2700在長時間運行過程中能夠保持穩(wěn)定的性能表現(xiàn)，減少了因儀器故障而導致的實驗中斷。

HITACHI日立分光光度計易使用F-7000能夠處理濃度范圍高達6個數(shù)量級的數(shù)據(jù)，生成校正曲線，無需對未知樣品進行任何預處理即可進行定量。此外，增強的時間掃描...

HITACHI日立熒光分光光度計易使用F-7100采用全新氙燈，并改良了燈電源，使得光源亮度提升，并有效延長了氙燈的使用壽命。延長燈泡更換周期可降低耗材成本，減...

Otsuka大塚 多通道光譜儀配件豐富MCPD-6800是用于分光檢測與分析的基本系統(tǒng)。可以瞬間進行分光光譜的測量,也可以通過自由組合的光學系和豐富的配件，搭建...

YAMADA山田光學晶圓審核標準光源箱YP-250I半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產過程中的缺陷檢測和質量控制環(huán)節(jié)。隨著半...

YAMADA山田光學 晶圓實驗設備燈管YP-150I半導體晶圓檢查燈是半導體制造過程中的專業(yè)照明設備，專門設計用于晶圓生產過程中的缺陷檢測和質量控制環(huán)節(jié)。隨著半...

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