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NexION ICP-MS 分析高純度過氧化氫中的微量硅

閱讀：710      發布時間：2020-03-24
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    過氧化氫是一種無色透明,帶有微量臭氧味的液體。因其強大的氧化能力,被用于電路板(PCB)蝕刻、LCD基板配線及去除特定金屬中，超高純度過氧化氫還被用于去除半導體的光敏電阻和氧化清洗晶片,近來隨著LCD、半導體、PCB領域需求的增加,過氧化氫作為IT化學品備受關注。

 

    本實驗確立了使用NexION ICP-MS的DRC模式檢測高純度過氧化氫中的Si雜質濃度的條件，并獲得了可靠的結果。

提供商

 珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司

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