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硅類半導體、石墨烯、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻的測定

來源:北京中慧天誠科技有限公司   2025年06月13日 09:27  
四探針電阻率測定儀(方塊電阻測試儀、方阻測定儀)可根據(jù)不同材料的要求選擇測試探頭;碳化鎢探針探頭用于測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻;鍍金銅合金探針探頭用于測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜(ITO膜)、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高校和科研對導體、半導體材料導電性能的測量。
規(guī)格參數(shù):
測量范圍
              電阻率:10µΩ?cm~200kΩ?cm
              方塊電阻:50µΩ/□~1MΩ/□
              模擬電阻:10µΩ~200kΩ
測量精度
              電阻率:4%
              方塊電阻:4%
              模擬電阻:0.1%
測量速度:10次/秒、5次/秒、2次/秒
觸發(fā)方式:內(nèi)部、手動、外部
測量精度:0.5%
數(shù)據(jù)接口:RC 232C
環(huán)境溫度:0-45℃
相對濕度:≤95%RH

主機、測試架、四探針探頭、采集軟件(可根據(jù)要求定做)

方阻儀_四探針電阻率測試儀

型號:DZF-510


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