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| 價格區間 | 10萬-30萬 | 應用領域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣 |
|---|---|---|---|
| 組件類別 | 光學元件 |
產品簡介
詳細介紹
三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現非接觸式高精度細微表面性狀測量
三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現非接觸式高精度細微表面性狀測量
● 不依賴于光學倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學系統的NA進行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動的高穩定性
● 小型輕便
三豐WLI-Unit白光干涉光學單元顯微鏡，可利用白光干涉原理實現非接觸式高精度細微表面性狀測量
產品陣容
型號 Z向移動范圍 Z向分辨力
WLI-Unit-003 8000μm -
WLI-Unit-005 8000μm 4nm
WLI-Unit-010 8000μm 4nm
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