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JX-SBK50型教學便攜式澤貝克系數測試儀

JX-SBK50型教學便攜式澤貝克系數測試儀可用于熱電材料初選，快速篩選薄膜、塊體等熱電材料樣品；能進行均勻性測試，對材料內外部均勻情況作初步定量評價；還適用于本科階段各類熱電材料相關原理教學、實驗講解等教學環節。

主要技術參數：

1.探筆溫差：熱端固定50℃

2.樣品電阻：≤10kΩ

3.Seebeck量程：≦700μV/K

4.Seebeck分辨率：0.1μV/K

5.Seebeck系數最快測試時間：11s

6.相對標準偏差（重復性）：Seebeck＜5%

7.數據記錄：顯示12個測試結果

8.加熱功率：6W

9.樣品尺寸：Seebeck系數

          方形樣品：長≥5mm，寬≥1mm

          圓形樣品：直徑≥5mm

          柱形樣品：長≥5mm，直徑≥0.2mm