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丹東百特儀器有限公司

TECHNOLOGY

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  • 2011

    12-16

    智能激光粒度儀的技術(shù)參數(shù)

    一、智能激光粒度儀性能指標(biāo)測(cè)試范圍:0.02-2000μm。進(jìn)樣方式:自動(dòng)循環(huán)泵。重復(fù)性誤差:準(zhǔn)確性誤差:測(cè)量原理:米氏散射理論。軟件運(yùn)行環(huán)境:WindowsXP。接口方式:RS232(串口)或USB...
  • 2011

    12-12

    激光粒度分析儀在粉末涂料行業(yè)應(yīng)用過程中的常見問題

    1、如何選擇合適的粒度檢測(cè)方法。粉末涂料的粒度檢測(cè)和控制對(duì)于生產(chǎn)及應(yīng)用企業(yè)至關(guān)重要,那么,如何選擇合適的檢測(cè)設(shè)備呢?1.1白色家電等領(lǐng)域的噴涂,對(duì)粉末粒度要求高,濕法激光粒度分析儀是。1.2鋼窗、鐵柜...
  • 2011

    08-23

    BT-90動(dòng)態(tài)光散射納米激光粒度儀

    BT-90動(dòng)態(tài)光散射納米激光粒度儀是丹東百特引進(jìn)華南師范大學(xué)研究成果并與華南師范大學(xué)共同實(shí)施產(chǎn)業(yè)化的項(xiàng)目。其原理是當(dāng)納米顆粒分散在液體中的時(shí)候,納米顆粒在液體分子布朗運(yùn)動(dòng)的撞擊下進(jìn)行不規(guī)則的運(yùn)動(dòng),顆粒...
  • 2009

    07-08

    激光粒度測(cè)量原理

    目前,在顆粒粒度測(cè)量?jī)x器中,激光衍射式粒度測(cè)量?jī)x已得到廣泛應(yīng)用,特別是在國外,該種儀器已取得一致*。其顯著特點(diǎn)是:測(cè)量精度高、反應(yīng)速度快、重復(fù)性好、可測(cè)粒徑范圍廣、可進(jìn)行非接觸測(cè)量等。國內(nèi)對(duì)于該類型儀...
  • 2009

    07-08

    粒度分析的基本原理

    什么叫顆粒?顆粒其實(shí)就是微小的物體,是組成粉體的能獨(dú)立存在的基本單元。這個(gè)問題似乎很簡(jiǎn)單,但是要真正了解各種粒度測(cè)試技術(shù)所得出的測(cè)試結(jié)果,明確顆粒的定義又是十分重要的。各種顆粒的復(fù)雜形狀使得粒度分析比...
  • 2009

    06-22

    粒度測(cè)試的基本方法

    粒度測(cè)試的方法很多,具統(tǒng)計(jì)有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種,另外還有幾種在特定行業(yè)和領(lǐng)域中常用的測(cè)試方法。1、沉降法:沉降法是根據(jù)不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測(cè)...
  • 2009

    06-22

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)1、顆粒:在一尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體。這里所說的一尺寸一般在毫米到納米之間,顆粒不僅指固體顆粒,還有霧滴、油珠等液體顆粒。2、粉休:由大量的不同尺寸的顆粒組成的顆粒群。3、粒...
  • 2008

    04-15

    激光粒度測(cè)量原理-基本理論

    激光粒度測(cè)量原理-基本理論
  • 2008

    04-15

    水煤漿激光粒度儀的研制與應(yīng)用-應(yīng)用研究

    水煤漿激光粒度儀的研制與應(yīng)用-應(yīng)用研究
  • 2008

    06-27

    滑石微粉粒度測(cè)試中應(yīng)注意的問題

    滑石微粉粒度測(cè)試中應(yīng)該注意的幾個(gè)問題-應(yīng)用研究
  • 2008

    07-31

    沉降法粒度測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用-基本理論

    沉降法粒度測(cè)試技術(shù)與應(yīng)用-基本理論
  • 2008

    01-31

    顆粒特性對(duì)水泥性能的影響及分析方法-應(yīng)用研究

    顆粒特性對(duì)水泥性能的影響及分析方法-應(yīng)用研究
  • 2008

    01-31

    粒度分析的基本原理-基本理論

    粒度分析的基本原理-基本理論
  • 2008

    07-15

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)和基本方法問答

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)和基本方法問答
  • 2008

    01-29

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)和基本方法概述

    粒度測(cè)試的基本知識(shí)和基本方法概述

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