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薄膜太陽能電池用反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT簡介

2021-10-11  閱讀(1136)

薄膜太陽能電池用反射/透射/薄膜厚度測量系統(tǒng)F10-RT

F10-RT 是一款集成了測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)。可同時測量反射率和透射率,并可輕松分析膜厚、折射率和消光系數(shù)。

只需一根 USB 線和電源線即可輕松連接,無需調(diào)整光學(xué)系統(tǒng),無需復(fù)雜設(shè)置,而且設(shè)置非常簡單。

 

主要特點

  • 集成測量單元和測量臺的緊湊型臺式測量系統(tǒng)
    光譜范圍廣,可選擇多種光源

  • 反射率和透射率同時測量,膜厚、折射率和可用分析能力消光系數(shù)
    標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)時間記錄的相機(jī)測量位置

  • 放個樣品就行了。無需調(diào)整光學(xué)元件,非常容易設(shè)置

主要應(yīng)用

平板 聚酰亞胺、ITO、抗蝕劑、氧化膜、抗反射涂層、PET和玻璃基板上的各種光學(xué)膜
光學(xué)鍍膜 玻璃、眼鏡、鏡片等的硬質(zhì)涂層。
薄膜太陽能電池 CdTe、CIGS、非晶硅等

產(chǎn)品陣容

 

 模型

 F10-RT

-紫外線

 F10-RT

 F10-RT

-近紅外

 F10-RT

 -近紅外

 F10-RT

 -UVX

測量波長

范圍

 190 – 1100nm 380 – 1050nm  950 – 1700nm  380 – 1050nm 190 – 1700nm

膜厚測量

范圍

 1nm – 40μm 15nm – 70μm  100nm – 150μm  15nm – 150μm 1nm – 150μm

準(zhǔn)確性

± 0.2% 薄膜厚度 ± 0.4% 薄膜厚度 ± 0.2% 薄膜厚度
1納米 2納米 3納米 2納米 1納米

光源

氘·

鹵素

鹵素

氘·

鹵素




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