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表面附著異物可視化技術分析
2023-2-8 閱讀(768)
表面附著異物可視化技術分析
粒子可視化技術可用于以高靈敏度檢測光滑表面上的粒子。此外，通過可視化顆粒成分的熒光，可以每天管理表面污染物和污漬。
使用散射光的方法
高靈敏度微粒可視化技術是一種捕捉運動微粒散射光的技術。同樣的原理可用于高靈敏度檢測表面異物和移動產品的微弱散射光。激光只能應用于光滑的產品，但例如，即使在薄膜中也可以通過可視化檢測施加張力的位置。
使用散射光檢測表面污染物
熒光結合使用
附著在表面的異物或污垢可能會返回來自其成分的熒光。為了使熒光顏色清晰，需要對照射光進行設計，但如果用特殊濾光片切斷散射光，表面異物會很鮮艷，很容易看清。使用這種方法，只要光線到達表面，無論表面的光滑度如何，都可以進行可視化。“D Light"可以免費租借（約2天）。請借此機會嘗試一下。
使用熒光識別異物和污垢
利用表面粒子可視化技術的最佳解決方案
“D Light"，一種可以更容易地看到表面異物和污漬的熒光色的工具
“D Scope"，即使是微弱的熒光也能捕捉到，分析微粒子的各種信息并將其轉換為數據的工具
一種相對容易設置在您想要可視化的表面上的光源是“Parallel Eye F" 。
“Parallel Eye H"是可視化寬大光滑產品表面的最佳光源。
“Parallel Eye D"是可視化不平整表面和突出熒光的最佳光源。
具有粒子檢測專用靈敏度和功能的超高感度相機是專用超高感度相機“Iscope" 。
用于在 PC 上進行實時圖像處理和記錄的圖像處理包“ParticleEye"
