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穩定同位素質譜技術原理：從離子源設計到高精度質量分餾的解析
穩定同位素質譜技術（StableIsotopeRatioMassSpectrometry,SIRMS）的核心在于通過質譜分析實現同位素比值的高精度測定，其技術流程涵蓋離子源設計、質量分離與質量分餾校正三大關鍵環節。
離子源設計是技術的基礎。樣品需轉化為氣體形式（如CO?、N?）后進入離子源，通過電子轟擊或化學電離等方式剝離電子，形成帶正電的離子束。離子源需滿足高電離效率、低記憶效應及穩定離子流輸出的要求。例如，雙路進樣系統可減少交叉污染，而激光輔助電離技術則能提升對復雜基質的適應性。
質量分離依賴電磁場對離子的操控。離子束進入質量分析器后，在電場和磁場作用下按質荷比（m/z）分離。磁扇形分析器通過調整磁場強度使不同質量離子聚焦至檢測器，而飛行時間分析器（TOF）則利用離子飛行速度差異實現分離。多接收器設計可同步捕獲多種同位素信號（如¹²C、¹³C），顯著提升分析效率。
質量分餾校正是確保精度的關鍵。由于離子源、質量分析器及檢測器對不同質量離子的傳輸效率存在差異，需通過標準化物質（如PDB、大氣N?）進行校正。例如，δ¹³C值通過樣品與標準物質的¹³C/¹²C比值偏差計算（δ¹³C=[(R??????/R????????)-1]×1000‰），消除儀器質量歧視效應。此外，連續流進樣系統與在線燃燒裝置的結合，可減少樣品預處理中的同位素分餾，進一步提升數據可靠性。
該技術通過優化離子源設計、精準質量分離與嚴格質量分餾校正，實現了對樣品中穩定同位素（如C、N、O）的高精度定量分析，為地球化學、生態學及考古學等領域提供了關鍵工具。