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蘇州福佰特儀器科技有限公司
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涂鍍層測厚儀對生產的工藝的測量使用

時間:2025/5/19閱讀:147
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          XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀,既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能,又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析,搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移,實現無人值守多點測量,測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術,解決了諸多業界難題。

         被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

         1)搭載微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統,最小測量面積達0.03mm2

        2)擁有無損變焦檢測技術,手動變焦功能,可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm

        3)核心EFP算法,可對多層多元素,包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析(釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度)

       4)配備全自動可編程移動平臺,可實現無人值守,對成百上千個樣品進行全自動檢測

       5)涂鍍層分析范圍:鋰Li(3)- 鈾U(92)

       6)成分分析范圍:鋁Al(13)- 鈾U(92)

       7)RoHS、鹵素有害元素檢測

       8)人性化封閉軟件,自動判斷故障提示校正及操作步驟,避免誤操作

      9)標配四準直器自動切換

     10)配有微光聚集技術,最近測距光斑擴散度小于10%


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