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【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

閱讀:261      發布時間:2024-10-21
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【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

為促進顆粒與粉體相關領域學術交流,夯實學科發展基礎,推進技術融合創新,助力人才成長和推動行業可持續發展,由中國顆粒學會主辦、由中國科學院過程工程研究所和中國顆粒學會微納氣泡專委會等承辦的第十三中國顆粒大會(The 13th China Congress on Particle Technology (CCPT13))將于2024年10月25-28日在蘇州市舉辦。

本屆大會以“匯聚顆粒大智慧,增強新質生產力"為主題,采用大會特邀報告、分會主題報告、分會邀請報告、口頭報告和墻報等形式展開交流,并舉辦顆粒/粉體儀器、設備、產品、技術及其應用和成果展,包括顆粒/粉體測試分析儀器、制備設備、產品、技術及其在化工、能源、材料、醫藥和環境等領域的應用和成果等內容。
瑞芯智造作為納米顆粒表征領域先進設備制造商,將攜NanoCoulter納米粒度儀亮相大會,歡迎您蒞臨參觀和交流!

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【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

會議信息

會議時間:

2024年10月25日-28日

會議地點:

蘇州國際會議酒店

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展會地圖

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會議詳情

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NanoCoulter 納米粒度儀介紹

【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會產品優勢

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粒徑|媲美電鏡的粒徑檢測精度


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NanoCoulter測量聚苯乙烯標準微球等樣本的平均粒徑與粒徑分布,其結果與電鏡(SEM)數據準確度及精度吻合。
【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

濃度|精準的濃度測量和重復性


【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

將樣本梯度稀釋,濃度數據線性關系良好,且與理論濃度相一致(固含量理論計算),10次重復測試,CV<5%。
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電位|單顆粒Zeta電位測量


【會議邀請】瑞芯邀您參加第十三屆中國顆粒大會

顆粒的帶電情況,即顆粒的zeta電位,是表征分散體系穩定性的重要指標,是極其重要的一個參數。在電解質溶液中,通過檢測顆粒穿過納米孔的時間,再根據Helmholtz-Smoluchowski方程可準確計算zeta電位。

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關于瑞芯

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瑞芯智造(深圳)科技有限公司是一家致力于打造優秀的納米單顆粒表征儀器的國家高新技術企業。公司具備原子級別(1納米以下)精度的微加工能力,掌握優秀的生物納米芯片加工技術,自主研發的NanoCoulter 系列單顆粒分析系統通過捕捉納米顆粒信息,可對納米顆粒進行全面表征。

瑞芯智造始終秉持“用科技守護生命,用技術創造價值"的核心理念,通過提供優秀的納米顆粒表征儀器和技術服務,賦能科學研究、生產品控、工藝控制、臨床診斷、醫藥研發等眾多應用領域,致力于成為全球納米單顆粒表征的儀器服務商。

  


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