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二維平移光譜響應測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應的設備。這種探針臺結合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學性能測試。 PLCTS光譜響應測試探針臺是一種專門用于測試材料光譜響應的設備。這種探針臺結合了光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試等功能，可以對材料進行全面的光學性能測試。在光譜響應測試中，探針臺通過精確控制光源和探測器，測量材料在不同波長光照射下的響應情況。通過測量光譜響應度、量子效率等參數，可以了解材料對不同波長光的吸收、反射和透射特性，進而評估其光學性能和應用潛力。
技術優勢
·半圓形探針架，可放置6個DC探針座;
· 漏電精度100fA/10pA;
· 整體位移精度3μm;
· 1微米以上電極/PAD使用;
· 樣品臺XYZR四維調節;
· 模塊化設計，可以搭配不同構件完成多種不同測試需求;
模塊介紹
通用參數：
樣品臺尺寸 | 4,6,8,12英寸 |
位移精度 | 3um |
漏電精度 | 100fA |
線纜規格 | 三同軸線纜 |
探針座精度 | 3um |
顯微鏡移動 | 25*25mm |
位移維度 | XY整體位移 |
行程 | X:100mm Y:100mm |
產品示意圖：
產品選型：
產品型號 | 樣品臺尺寸 | 樣品臺位移精度 | 探針座位移精度 | 漏電流精度 |
TLRHC-04 | 4英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-06 | 6英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-08 | 8英寸 | 3um | 3um | 100fA |
TLRHC-12 | 12英寸 | 3um | 3um | 100fA |
譜量光電可根據客戶實際應用需求，定制配套二維平移光譜響應度測試探針臺系統，以達更好的測試效果及更高的性價比，具體信息可聯系詳詢。
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