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蘇州品恩儀器科技有限公司
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當(dāng)前位置:蘇州品恩儀器科技有限公司>>工業(yè)顯微鏡>>金相顯微鏡>> GX53倒置金相顯微鏡

倒置金相顯微鏡

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號GX53

品       牌OLYMPUS/奧林巴斯

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地蘇州市

更新時間:2025-05-22 11:05:54瀏覽次數(shù):609次

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產(chǎn)地類別 進口 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,航空航天,制藥/生物制藥,汽車及零部件
GX53倒置金相顯微鏡具有清晰圖像和高倍分辨率。該顯微鏡的模塊化設(shè)計擁有包含編碼物鏡轉(zhuǎn)換器和軟件在內(nèi)的附件,可以更方便地進行定制,以滿足您的要求。

快速分析較厚的大尺寸樣品材料

專為鋼鐵、汽車、電子和其他制造行業(yè)設(shè)計的GX53倒置金相顯微鏡能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像。將該顯微鏡與PRECiV圖像分析軟件配合使用時,從觀察到圖像分析和報告的整個檢測流程都將變得更加順暢。

1.jpg

快速檢測,功能*

快速觀察、測量和分析金相結(jié)構(gòu)。

*的分析工具

1.采用組合觀察方法獲得出色圖像;

2.輕松生成全景圖像;

3.生成全聚焦圖像;

4.采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域。

專為材料科學(xué)而優(yōu)化

1.專為材料科學(xué)而設(shè)計的軟件;

2.符合行業(yè)標(biāo)準要求的金相分析。

人性化

即使是新手操作員也可以輕松完成樣品觀察、結(jié)果分析和報告創(chuàng)建。

1.輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置;

2.用戶指導(dǎo)讓高級分析變得更加簡單;

3.高效生成報告。

*的成像技術(shù)

我們成熟可靠的光學(xué)和成像技術(shù)可提供清晰的圖像和可靠的結(jié)果。

1.可靠的光學(xué)性能:波前像差控制;

2.清晰的圖像:圖像陰影校正;

3.一致的色溫:高強度白光LED照明;

4.精確測量:自動校準。

模塊化

根據(jù)您的應(yīng)用要求選擇所需的組件。

打造專屬于您的系統(tǒng):利用各種可選組件獲得全面定制的系統(tǒng)。


*的分析工具

GX53倒置金相顯微鏡的各種觀察功能可提供清晰、銳利的圖像,讓您能夠?qū)悠愤M行可靠的缺陷檢測。PRECiV圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為樣品評估和結(jié)果記錄提供更多選擇。

高數(shù)值孔徑和長工作距離相結(jié)合

物鏡對顯微鏡的性能至關(guān)重要。新的MXPLFLN物鏡通過同時實現(xiàn)數(shù)值孔徑和工作距離,為MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍時,分辨率越高,通常意味著工作距離越短,這會迫使樣品或物鏡在物鏡交換過程中縮回。在許多情況下,MXPLFLN系列的3 mm工作距離消除了這一問題,使檢查速度更快,物鏡碰到樣品的可能性更小。

物鏡.jpg

從不可見到可見:MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場與另一種觀察方法(例如明場或偏振)相結(jié)合,使您能夠查看傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品。圓形LED照明器具有定向暗場功能,可在規(guī)定時間照射一個或多個象限,減少樣品的光暈,以便更好地觀察表面紋理。

印刷電路板的橫截面.jpg


輕松生成全景圖像:即時MIA

使用多圖像拼接(MIA)功能時,只需轉(zhuǎn)動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接 — 電動載物臺為可選件。PRECiV軟件采用模式識別生成全景圖像,非常適合檢查滲碳和金屬流動情況。


螺栓的金屬流動.jpg


生成全聚焦圖像:EFI

PRECiV軟件的景深擴展(EFI)功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起,生成樣品的單幅全聚焦圖像。即使分析表面不平整的橫截面樣品時,EFI也能創(chuàng)建全聚焦圖像。

EFI配合手動或電動Z軸聚焦裝置,可生成高度圖像,對結(jié)構(gòu)進行可視化觀察。


樹脂零件.jpg


利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用*圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍(HDR)可調(diào)整圖像內(nèi)的亮度差異,從而減少眩光。該功能還有助于增強低對比度圖像的對比度。HDR可用于觀察電子器件中的微小結(jié)構(gòu)并識別金屬晶界。


QQ截圖20230516140702.jpg

PRECiV軟件 — 針對材料科學(xué)優(yōu)化

GX53顯微鏡和PRECiV軟件可為滿足各種行業(yè)標(biāo)準要求的金相分析方法提供支持。通過分步操作指導(dǎo),用戶可輕松快捷地完成樣品分析。

顆粒分析 — 計數(shù)和測量解決方案

計數(shù)和測量解決方案采用高級閾值法,能夠可靠地分離目標(biāo)(如顆粒和劃痕)與背景。可使用超過50種不同的參數(shù)對樣品進行測量或評級,包括形狀、大小、位置和像素特性等。


顆粒分析.jpg

微觀結(jié)構(gòu)中的晶粒尺寸

測量晶粒尺寸并分析鋁、鋼晶體結(jié)構(gòu)(例如鐵素體和奧氏體)以及其他金屬的微觀結(jié)構(gòu)。

支持的標(biāo)準:ISO、GOST、ASTM、DIN、JIS、GB/T。

鐵素體晶粒的微觀結(jié)構(gòu).jpg

評估石墨球化率

評估鑄鐵樣品(球墨和蠕墨)的石墨球化率和含量。對石墨節(jié)點的形態(tài)、分布和大小歸類。

支持的標(biāo)準:ISO、NF、ASTM、KS、JIS、GB/T。

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵.jpg

鑄鐵解決方案

高純度鋼中非金屬夾雜物含量的評定。

對在惡劣視場采集圖像中的非金屬夾雜物或手動發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進行分類。

支持的標(biāo)準:ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI

含非金屬夾雜物的鋼

含非金屬夾雜物的鋼.jpg

夾雜物惡劣視場解決方案

比較樣品圖像和參考圖像

對在惡劣視場采集圖像中的非金屬夾雜物或手動發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進行分類。

支持的標(biāo)準:ISO、EN、ASTM、DIN、JIS、GB/T、UNI。

比較樣品圖像和參考圖像.jpg

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