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什么是X射線衍射儀(XRD)?
1.1 定義
X射線衍射儀(XRD)是通過分析材料對X射線的衍射圖譜,確定晶體結構、物相組成的精密分析儀器,廣泛應用于材料科學、化工、礦物學等領域。
1.2 工作原理
X射線源:銅靶(Cu Kα, λ=1.5418 ?)或鉬靶(Mo Kα)產生特征X射線。
衍射條件:遵循布拉格方程 ,通過檢測衍射角θ計算晶面間距d。
探測器:閃爍計數器(SC)或二維面探(如HyPix-3000)。
1.3 核心組成
測角儀:精度±0.0001°(高分辨型)。
樣品臺:多軸自動調整,支持粉末、薄膜、塊體樣品。
數據處理軟件:JADE、HighScore等用于全譜擬合與物相檢索(匹配ICDD數據庫)。
1.4 應用場景
催化劑研發:分析氧化鋁載體晶型(γ-Al?O? vs. α-Al?O?)。
制藥:藥物多晶型鑒別(如利托那韋不同晶型的溶出度差異)。
金屬材料:殘余應力測定(sin2ψ法)。
1.5 選型要點
分辨率:科研級需<0.01°(如Rigaku SmartLab)。
附件擴展:小角散射(SAXS)、高溫腔(1600℃)。