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ET8000型測量機PX 1950
SM280自動顯微薄膜厚度測繪儀PX 2874
00C-TNF晶圓光學檢測鑷MEISTER-00CPX 3847
MKW-3800薄膜應力測試儀PX 1425
KPM AP-D-LeAQUA-PICCOLO手持式皮革水分測試儀PX 2789
HD-2263/ST2263雙電測四探針檢測儀PX 2757
RM3000值得稱贊的的英國Jandel探針-德國赫爾納PX 2244
WD4000晶圓幾何形貌在線測量系統PX 6528
LPA812-3美國 Logosol 晶圓預對準器PX 3500
YP-150I-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售PX 3143
FLATSCAN薄膜應力測試儀PX 2599
CGSR系列膜厚測量儀PX 1650
A-9531-0237Renishaw雷尼紹測頭PX 2349
UIH-3DINTECS英特斯 半導體晶圓異物照明檢查燈PX 5106
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀PX 3315
半導體晶圓缺陷檢測儀PX 3257
TK-1SMALCOM馬康 探針測試儀PX 4553
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001PX 5399
國產晶圓搬運機PX 6127
RTS-3型手持式四探針測試儀半導體電阻儀PX 3787
RTS-9型雙電測四探針鋰電極片電阻測試儀PX 2739
MKF1-KW2-20036+428德國福鳥VOGEL測量儀常規型號現貨PX 4105
RM 3000赫爾納供應英國Jandel四探針探頭PX 5121
*YR(40A)直流電阻測試儀PX 3906
BDST-300C半導材料四探針測試儀PX 3792
半導體晶圓缺陷與少子壽命測試系統-SPM900PX 4944
GBT17643切口恒載拉伸法土工膜應力開裂測試儀PX 4557
SG-OEnlitech CIS/ALS/光傳感器晶圓測試儀PX 2305
MFNA-200福樂FLUORO缺口和定向器PX 3046
Full Deposition PSL Wafer校準晶圓標準品-半導體表征PX 3014
愛安德晶圓缺陷185LE L專配鹵素燈杯17V185W現貨PX 3237
襯底電阻率方阻測試儀PX 1729
ZS美國MOUNTZ扭矩測試儀維修PX 3510
GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀PX 10046
四探針方阻電阻率測試儀PX 3183
BX-G3487高精度太陽膜透過率測量儀PX 3092
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統PX 2280
PA-110-t晶圓應力雙折射測量儀PX 2716
TC-SLQZ型氣動和真空探針土壤采樣PX 2463
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統PX 7075
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晶圓光學檢測鑷MEISTER-00C
美國 Logosol 晶圓預對準器
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美國 Logosol 預對準器 巡邊臺 晶圓處理
美國 Logosol 分布式控制網絡控制器 晶圓
美國 Logosol LPA系列預對準器 晶圓處理
晶圓幾何形貌在線測量系統
-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
INTECS英特斯 半導體晶圓異物照明檢查燈
MALCOM馬康 探針測試儀
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001
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